* Данный текст распознан в автоматическом режиме, поэтому может содержать ошибки

350 Концентрация напряжения около отверстий Наибольший интерес представляет концентрация нормальных на­ пряжений (о"в)> действующих на площадку, перпендикулярную к ка­ сательной и контуру отверстия, в касательных напряжений <а ) между волокнами. На рис. 33 кривой / показано изменение коэффициента концентраии /г напряжений <о ) по контуру эллиптического отверстия, большая эсь которого параллельна ориен<б > гации волокон (что указано C O O T f t f t t f f 12 0 е а —<6 > a L ~<6 > a liillii Рис. 33 Рис. 34 зетствующей штриховкой в четвертом квадранте части пластинки у конгура) при соотношении большой и малой осей 2. Кривая 2 хаэактеризует перераспределение напряжений (од) на контуре отверстия 1ри длительном нагруженин пластинки. <б > а <б#> Рис 35 Рис. 36 в Изменение коэффициента концентрации напряжений ( о ) в той же [ластинке, но прн расположении большой оси эллиптического отверстия [ерпендикулярно к направлению растяжения, показано на рис. 34. (ривая / соответствует начальному напряженному состоянию в платинке, а кривая 2 — после длительного нагружения (после ~-500 ч, огда релаксационные процессы практически окончились). Кривая 2 на рис. 35 показывает изменение во времени коэффициента онцентрации напряжений ( о ) в пластинке, армированной вдоль е ольшой оси эллипса ^при = 2^ и при растяжении перпендикуляр- о ориентации волокон после длительного нагружения; кривая 1 соотетствует мгновенному напряженному состоянию в начальный момент