* Данный текст распознан в автоматическом режиме, поэтому может содержать ошибки

22 ВЗАИМОЗАМЕНЯЕМОСТЬ И ИЗМЕРЕНИЯ В МАШИНОСТРОЕНИИ служит подвижным указателем для неподвижной шкалы интерферометра. Черная полоса соответствует поло­ жению ребра мнимого клина, образо­ ванного пересечением поворотного зер­ кала 7 с мнимым изображением зер­ кала 6\ Цена деления шкалы переменна и может устанавливаться на любое зна­ чение в пределах от 0,02 до 1 мк путем изменения ширины интерференционных полос, что достигается поворотом зер­ кала 7 (изменением угла клина). Образцовой мерой для градуировки и проверки шкалы с ценой деления 0,2 мк и меньше служит длина световой волны X, пропускаемая монохроматическим интер­ ференционным светофильтром 3. О применении интерферометров для контроля плоскопараллельных конце­ вых мер длины см. в табл. 3. Технический интерфе­ ренционный метод измере­ ния срединного размера п л и т о к . Плоские оптические пла­ стины предназначены главным образом для сравнительных измерений плоско­ параллельных концевых мер (плиток) 3-го и 4-го Объектив Шкала разрялов (см. табл. 3) Глаз техническим интерферен­ ционным методом. Для этой цели применяется набор из двух пластин: Окуляр нижней и верхней (фиг. 28) — диаметром 60 мм. Сопоставление размеров исход­ Световой по­ ной и проверяемой плиток произво­ ток от источни­ дится следующим образом. ка / проходит через конден­ Обе плитки притирают к нижней стек­ сор 2 к нижней лянной пластине и накладывают на них п о в ер X н о с т и верхнюю стеклянную пластину (фиг. 29). разделительной пластины 4. Штрихи Часть светово­ Фиг. 27. го потока прой­ дет компенсатор 5, отразится от эеркала 6 и Вторая возвратится к пластине 4. часть светового потока отразится от Нижняя пластина Верхняя пластина нижней поверхности пластины 4, прой­ МИГ дет эту пластину, отразится от зеркала 7 Фиг. 28. и возвратится к пластине 4. Световые потоки, отраженные зерка­ Если размеры плиток не равны, полосы лами € и 7, при встрече будут интер­ на одной плитке будут смещены отно­ ферировать. Интерференционная кар­ сительно полос на другой плитке. Если тина наблюдается на шкале микроскопа, исходная плитка больше проверяемой, причем при цене деления 0,2 мк или например на 0,6 MK то в том месте, меньше, черная ахроматическая интер­ где на исходной плитке наблюдается ференционная полоса в белом свете дробные доли длин полуволн не менее чем для трех линий спектра. Если длины световых волн этих линий спектра из­ вести ы, то вычисление общего количества длин полуволн, заключающихся в длине плитки, не представляет затруд­ нений; полученное в результате измере­ ния на интерферометре сочетание дроб­ ных долей длин полуволн для несколь­ ких линий спектра соответствует одному, и только одному, значению размера плитки (лежащему в определенном ин­ тервале). Бесконтактные интерферометры ис­ пользуются также для относи­ т е л ь н ы х и з м'е р е н и й , т. е. для сличения размеров проверяемой и ис­ ходной плиток, притираемых ря­ дом к кварцевой пластине. Схема контакт­ ного интерферо­ метра конструкции инж. И. Т. Уверского показана на фиг. 27. \ t