* Данный текст распознан в автоматическом режиме, поэтому может содержать ошибки

526 ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНОЕ ОПРЕДЕЛЕНИЕ ДЕФОРМАЦИИ, НАПРЯЖЕНИЙ Способы получения изоклин см. [ 1 5 ] , [41], [ 4 9 ] ; рекомендуется применение мо­ делей из оргстекла. Траектории главных напря­ ж е н и й (изостаты) представляют собой две системы взаимно перпендикулярных кривых, касательные к которым совпа­ дают с направлениями главных напря­ жений; к свободному контуру изостаты выходят по нормали. П о л е изостат по­ лучается по полю изоклин проведением через точки изоклин прямых с накло­ ном, равным параметру изоклины; п о ­ строение может начинаться с любых точек на изоклине. Построение изостат по изоклинам см. [ 4 1 ] , [ 4 9 ] . И з о т р о п н ы е т о ч к и (а — о ) — О наблюдаются как полосы (изохромы) интерференции н у л е в о г о порядка т — 0. Способы определения положений точек т =» 0 с помощью полярископа: а ) при белом свете и круговой поляризации точки т =» 0 — темные с оранжево-жел­ той каймой, все прочие—цветные; б ) через точки т = 0 проходят все изоклины (проверяется при белом свете и плоской поляризации); в ) при нагру­ жении модели точки т — 0 не пере­ мещаются. Различие случаев O — ( T T 0 или O — а — 0: a ) O — O = - 0, если попе­ речная деформация в изотропной точке равна нулю (проверяется т о л щ е м е р о м ) или если высверливание поперечного отверстия малого диаметра в модели не нарушает картины напряжений; б ) Q => * 2 Ф 0, если при наклонном просве­ чивании изотропная точка раздваивается. Определение разностей главных н а п р я ж е н и й сводится по формуле ( 1 5 ) к определению ц е л о г о или дробного по­ рядка т интерференции. Методы замера т: 1) сопоста­ вление окрасок ( б е л ы й свет в поляри­ скопе) для качественного определения / п < 4 [ 4 9 ] ; 2) применение эталона; см. [41], [ 4 9 ] ; 3) компенсация по точкам при малой оптической активности материала модели (стекло, ц е л л у л о и д ) или при малой толщине модели (например, при срезах .замороженной" модели толщи­ ной / » 1-н 2 мм); см. [ 1 5 ] , [ 4 1 ] , [ 4 9 ) ; 4) по методу полос при m > - 3 - ! - 4 ; этот метод является основным для мо­ делей иэ материала с высокой оптиче­ ской активностью толщиной б о л е е 3 — 4 мм — см. ниже; 5 ) применение ми­ крофотометра при необходимости изме­ рять дробные значения т по негати­ вам [ 1 5 ] . д 2 1 2 i 1 а j 2 1 в Метод полос является наиболее эффективным методом измерения т на плоских прозрачных моделях и заклю­ чается в получении на экране поляри­ скопа при нагружении модели картины интерференции в виде густо располо­ женных внутри контура модели полос интерференции с последовательным по­ рядком т целым или половинным ( с м . табл. 14). Н е о б х о д и м о применение мо­ делей из материала высокой оптической активности; в п о л я р и с к о п е — круговая поляризация и монохроматический свет. Д л я получения порядка полос, равного TRBX Р наибольшем допускаемом в модели напряжении Odon= Qnp* требуемая толщина модели (среза) при однократ­ ном просвечивании m П И c C J пр Пример. Для материала ИM-44 при комнатной температуре испытания (см. табл. 11), принимая £ = 0,5, получаем при m = 10 наименьшую толщину \1 t — m m u . (21) 0,5-500 10 ь= 0,5 ем. Определение п о р я д к а т по­ лос производится: а ) исходя из обычно имеющихся точек т = 0 (выходящие у г л ы модели, нейтральные зоны) счетом порядка полос, на экране или фотогра­ фии; способы определения на экране по­ лярископа точек т 0 см. выше . и з о ­ тропные т о ч к и ' ; б ) при отсутствии точек т « - 0 счетом полос в процессе нагру­ жения или с помощью компенсатора. Порядковые номера соседних полос или равны, или отличаются на + 1 или — 1 . Густота полос может быть удвоена, если произвести два фотоснимка: при скре­ щенных поляризаторе и анализаторе (темный фон; т — 0 , 1 , 2 , . . . ) и при парал­ лельных (светлый фон; т = Ц Ц /г....); см. табл. 14. Рекомендуемый с п о с о б оп­ ределения т в зоне концентра­ ции напряжений: 1) прилагается наиболь­ шая нагрузка к модели и отмечается место т на контуре; 2 ) с примене­ нием луны с 10- или 20-кратным уве­ личением (снабжается диафрагмой с небольшим отверстием) поцсчитывается в отмеченной точке величина / K с точностью д о 0,1 полосы, начиная счет с нулевой полосы; 3 ) нагрузка уменьшает­ ся ступенями (через i / —наиболь­ шей нагрузки) и замеряются в той ж е точке величины т; 4 ) по графику т — нагрузка" определяется число полос на ъ ъ 6 тах тах m a x 1 0 9