* Данный текст распознан в автоматическом режиме, поэтому может содержать ошибки

879 К Р И С Т А Л Л Ы 380 ственной решотки, представляет собой есте­ ственную трехмерную диффракционную решотку. Промежутки между ее плоскостями & являются величинами того же порядка, что и длина волны рентген, лучей. Теоретиче­ ское предположение Лауе блестяще под­ твердилось на опыте. С этого времени изу­ чение структуры К . вступило в новую эру. Работы Бреггов, Дебая, Шеррера и Гулля ( B r a g g , Debye, Scherrer, H u l l ) дали возмож­ ность не только определить абсолютные ве­ личины параллелепипедов пространствен­ ной решотки, но и дать точные структурные модели целого ряда веществ. Методика ис­ следования К. при помощи рентген, лучей в наст, время исчерпывающе разработана. Можно указать на 4 главнейших метода: 1) Л а у е , 2) Бреггов, 3) Дебая и Ш е р р е р а , 4) метод вращающегося К. При методе Лауе пучок рентген, лучей, пройдя отверстие в свинцовой диафрагме, падает на К. Отдель­ ные атомы этого К. под влиянием первич­ ных лучей, идущих от трубки, сами стано­ вятся источниками рентген, лучей (вторич­ ных). Эти последние, интерферируя между собой, вызывают на фотогр. пластинке ряд пятен, расположенных вокруг центрального пятна (см. отд. табл., рис. 5). Положение этих пятен связано простой зависимостью от расстояния от К. до пластинки. Для раз­ бора рентгенограмм типа Лауе весьма удоб­ но применяются сетка Вульфа и связанные с ней графические методы. Для определения расстояния между атомными плоскостями применяются методы Бреггов и Дебая и Ш е р р е р а . В первом из них на К . под раз­ личными углами посылается пучок лучей от трубки. После «отражения» от атомных плоскостей (здесь конечно нет обычного от­ ражения, а имеет место та же интерферен­ ция вторичных лучей) лучи вызывают иони­ зацию газа в особой камере. П о отклонению электрометра судят о силе ионизации. Я в ­ ление это может быть выражено уравне­ нием nA=2d simp, где п—целое число, А—дли­ на волны, d—расстояние между атомными плоскостями, (р—угол падения, считая от грани К. Для этих двух первых методов нужны достаточно большие К., к-рые не все­ гда можно получить. 3-й метод (Дебая и Шеррера) обходит это затруднение. Здесь применяются столбики, спрессованные из мелких кристаллических порошков. Лучи определенной длины волны, падая на такой столбик и встречая громадное количество мелких произвольно ориентированных К., дают отражение лишь в том случав, когда угол падения на какую-нибудь атомную плоскость соответствует вышеприведенному уравнению. Эффект воспроизводится на фотопленку, изогнутую в виде цилиндра, в к-ром столбик занимает центральное поло­ жение. Н а пленке виден ряд кривых р а з ­ личной интенсивности и на разных расстоя­ ниях от центрального пятна. Этот метод служит не только для определения между­ атомных расстояний, но является еще и очень удобным средством выявить скрытую кристалличность веществ. Наконец метод вращающегося К. дает возможность опре­ делить структуру со всей возможной пол­ нотой, причем в этом случае делаются сним­ ки также и по методу Лауе для выяснения геометрических особенностей исследуемой решотки. И з всего приведенного ясно практическое значение науки о К.—кристаллографии. В качестве самостоятельной науки она пред­ ставляет большое значение для исследова­ ния внутренней структуры твердого веще­ ства, а эта структура является той основой, от к-рой зависят все его свойства. Поэтому за последнее время кристаллография начи­ нает связываться с такими областями знаний и техники, к которым она казалось бы име­ ет мало отношения, напр. с металлографи­ ей, металлургией, химией. В последней обла­ сти нельзя обойти молчанием чрезвычайно важное достижение Е . С. Федорова и его учеников—кристалло-химический анализ. Этот метод дает возможность определить ве­ щество только на основании внешней формы и оптических свойств его К . , не прибе­ гая к хим. анализу. В первоначальном виде метод Федорова к сожалению довольно тру­ ден и требует специальных навыков. В по­ следние годы ученик Федорова Болдырев значительно упростил методику определе­ ния, сделав ее доступной рядовому химику. Н а практике кристалло-химический анализ дал прекрасные результаты. Сам Федоров правильно решил около 9 0 % присланных ему задач. П о системе Болдырева получает­ ся еще больший процент правильных опре­ делений, причем вся операция занимает очень немного времени. Кристаллография как подсобная дисциплина необходима да­ лее для минералогии, петрографии, физики. Исторически она связана с минералогией, т . к . первыми объектами исследования были прекрасные&большие естественные кристал­ лы. Впоследствии, когда количество искус­ ственных соединений во много раз превыси­ ло число естественных, кристаллография отделилась от минералогии и заняла само­ стоятельное положение. СССР может гор­ диться многими выдающимися учеными, р а ­ ботавшими в области кристаллографии: Гадолин вывел вышеупомянутые 32 класса; Фе­ доров является одним из ученых, имя кото­ рого давно получило мировую известность; Вульф был пионером рентгенометрической кристаллографии в СССР и известен как ав­ тор своей стереографической сетки и своими работами в области жидких К. Эти своеоб­ разные образования, открытые О. Леманом (Lehmann), совершенно неправильно называ­ ются кристаллами. Правда, они обнаружи­ вают нек-рые оптические свойства, сходные со свойствами кристаллов. Это явление объ­ ясняется способностью молекул этих ве­ ществ образовывать длинные цепочки с опре­ деленной ориентировкой. Гораздо правиль­ нее называть эти образования кристалли­ ческими жидкостями, т. к, это по существу жидкости, строение к-рых не имеет ничего общего со стабильной пространственной решоткой кристаллов. Лит.: Б е л я н к и н Д., Кристаллооптика, Л., 1928; Б о л д ы р е в А., Основы кристаллографии, Л е н и н г р а д , 1 9 2 6 ( л и т о г р . , 2-е и з д . , п е ч . ) ; Б р а г г У . Г. и Б р а г г У . Л . , Рентгеновские лучи и строе­ ние кристаллов, M . — Л . , 1929; В у л ь ф Г., Кри­ с т а л л ы , и х о б р а з о в а н и е , в и д и с т р о е н и е , М о с к в а , 1926 (популярное изд.); И о ф ф е А., Ф и з и к а кристал­ лов, M . — Л . , 1929; К э й Г., Рентгеновские лучи