* Данный текст распознан в автоматическом режиме, поэтому может содержать ошибки

РЕМОНТ И ВОССТАНОВЛЕНИЕ ДЕТАЛЕЙ 141 3. Классы чистоты поверхности 6—14 Среднее арифметическое. Класс Высота неровностей В R RR п /т /T 1 м* V Т . поверх­ ности отклонение профиля R Q В МК разряды J K M а н е более а б в 6 7 8 9 10 11 12 13 14 2,5 1,25 0,63 0,32 0,16 0,08 0,04 0,02 0,01 2 1 0,5 0,25 0,125 0,063 0,032 0,016 0,008 -1,6 0,8 0,4 0,2 0,1 0,05 0,025 0,012 0,006 10 6,3 3,2 1.6 0,8 0,4 0,2 0,1 0,05 8 5 2,5 1,25 0.63 0,32 0,16 0,08 0,04 _ 4 2 1 0,5 0,25 0.125 0,063 0,032 Д л я классов 6—12 основной является шкала R а д л я классов 1—5, 13—14 — шкала R . П о соглашению сторон допускается измерение шеро­ ховатости поверхностей классов 6—12 по параметру R и классов 1—5, 13 и 14 — по параметру R. Д л я обозначения классов чистоты поверхности установлен один знак — равносторонний треугольник V » рядом с ним указывается номер класса или номер класса и разряд, например: SJ7> V ? 6 . Числовое значение шероховатости поверхности ограничивает только максимальную величину шероховатости по параметру R uj\u R ; например V 9 включает поверхности с R не более 0,32 мк. В тех случаях, когда тре­ буется ограничить максимальную и минимальную величины шероховато­ сти, в обозначении должны указываться два номера классов или раз­ рядов; например \/9—10 указывает, что R д о л ж н о быть не менее 0,2 и не более 0,25 мк. Шероховатость поверхностей грубее 1-го класса обозначается зна­ ком V . над которым указывается высота шероховатостей в микронах, ai z 2 a a z a a 500 например V Существуют два основных метода оценки и измерения неровностей — метод абсолютного или количественного контроля и метод относительного или качественного контроля. При количественном методе оценки высоту неровностей определяют непосредственно в R n R при помощи приборов. Д л я количественной оценки наиболее широко применяются щуповые и оптические приборы: профилометр КВ-7, двойной микроскоп МИС-11, интерференционный микроскоп МИСС-1 и профилограф ИЗП-17. При относительном методе оценки абсолютную высоту неровностей определить нельзя, чистоту поверхности можно оценить только путем срав­ нения с образцом. Д л я относительной оценки применяют сравнительные приборы (микроскопы), при помощи которых рассматривают одновременно под некоторым увеличением исследуемую и эталонную поверхность и оце­ нивают зрительно чистоту исследуемой поверхности. a z