* Данный текст распознан в автоматическом режиме, поэтому может содержать ошибки

420 Электронные лампы мального и минимального анодных токов, по которым легко находятся и отдаваемая мощность и величина вносимых усилителем искажений. Параметры лампы по анодным характеристикам находятся следующим порядком. Наклон характеристик дает обратную величину внутреннего сопротив­ ления лампы. Таким образом весьма важная при работе усилительных (главным образом оконечных) ламп величина — внутреннее сопротивление — находится по анодной характеристике таким же порядком, как опреде­ ляется крутизна по характеристике сеточной зависимости. Коэфициент усиления лампы определяется пересечением горизонталь­ ной линией двух соседних характеристик. Коэфициент усиления находится делением величины изменения анодных напряжений, соответствующих выбранным точкам пересечения, на разность сеточных напряжений, для которых вычерчены эти соседние характеристики. Крутиша лампы находится при пересечении двух соседних характери­ стик вертикальной линией (соответствующей неизменному анодному напря­ жению). Деление изменения сеточных напряжений на изменения анодных токов, соответствующих точкам пересечения, дает величину крутизны лампы. П р и м е р . Линия AK соответствует изменению анодного напряжения в 155—120 = 35 в и пересекает характеристики, соответствующие U = O и U =—10 в. Коэфициент усиления лампы (средний для рассматриваемого 35 участка) определится как — = 3,5. Внутреннее сопротивление лампы для характеристики при U = O можно определить по треугольнику SAC: g g g 120-75 0,060—0,020 45 0,040 = 1 120 ом. Крутизну лампы можно определить, положим, из участка вертикальной линии АС: ΔΛ, 0,060 -0,020 с 8== Щ= 0-(-13) ^ 0 К 0 Л 0 3 М ф ' a a Кроме перечисленного, данный *ип характеристик J = f (U ) может ответить еще на ряд вопросов. Неравномерный ход характеристики может указать на наличие при заданных напряжениях эффекта вторичной эмиссии. Этим приходится очень часто заниматься при рассмотрении характеристик экранированных ламп и пентода, где значение провалов в характеристике является чрезвычайно важным. При большой индуктивной нагрузке лампы в последней особенно в пентодах низкой частоты легко могут получаться опасные для нее пере­ напряжения. Пример 1ую величину этого перенапряжения можно определить, продолжая вправо прямую, соответствующую сопротивлению этой на­ грузки. По изменяющейся густоте следования анотных характеристик можно определить и примерные границы неискажаемой отдачи. Для этого вдоль рабочей линии AOB прикладывают линейку с миллиметровыми делениями и отсчитывают количество миллиметров по обе стор жы от основной ра­ бочей точки О до равностоящих по сеточному напряжению характеристик. До тех амплитуд сеточного напряжения, при которых расстояния между Трчкой О и соответствующими характеристиками не будут отличаться друг