* Данный текст распознан в автоматическом режиме, поэтому может содержать ошибки

ПОЛЯРИЗАЦИОННО-ОПТИЧЕСКИЯ МЕТОД ИССЛЕДОВАНИЯ НАПРЯЖЕНИЙ 529 [49]. [ 5 1 ] ) ; 3) метод аналогий (см. [ 6 ] , [ 2 1 ] , [41]. I i i J L J 4) интегрирование по изостатам (см. (15). [ 4 4 ] . WY, 5) метод приращения касательных напряжений (см. [ 4 1 ] ) ; 6) метод конечных разностей (метод сеток) (см. [ 4 1 ] , [ 4 9 ] ) . О п р е д е л е н и е напряжений на о б ъ ­ емных моделях. В общем случае объемных моделей требуется более сложная техника измерений, чем для плоских моделей. Напряжения на поверх­ ности и по отдельным сечениям модели при трехмерном напряженном состоянии наиболее просто оптическим методом ре­ шаются с применением оптически актив­ ных слоев. В о б щ е м случае исследования применяются независимо или в сочета­ нии: а) метод .замораживания'; б ) метод рассеянного света. Л л я раз­ деления главных напряжений, кроме того, применяются вычислительные ме­ тоды или (при ^ ф 0,5) измерение линейных деформаций при .размора­ живании". Объяснение явления .замора­ живания" см. [ 4 1 ] , [ 4 9 ] . Пример применения поляризационнооптического метода к определению да­ влений по поверхности см. [ 3 2 ] . Метод иммерсии. Объемная нагруженная модель погружается в им­ мерсионную ванну и просвечивается в полярископе параллельными лучами по­ ляризованного света (см. [41] и [ 4 9 ] ) . Получающаяся на экране картина дает суммарный эффект прохождения каждого луча через всю толщину модели. Истин­ ные напряжения по полученной картине могут определяться с достаточной точ­ ностью, если они по толщине модели меняются незначительно или если модель осесимметричная. 1. О д н о с т о р о н н и й монтаж п о л я р и с к о п а (см. стр. 523 и [15], [49]) позволяет проводить измерения в слож­ ных конструкциях, не допускающих пря­ мого просвечивания всей конструкции, при определении продольных усилий в пространственных оболочках или в от­ дельных элементах сложных конструкций. 2. М о д е л и с о с л о я м и р а з л и ч ­ ной оптической активности применяются для исследований напря­ жений в сечении объемной модели при прямом просвечивании без .заморажива­ ния", а также для измерения динамиче­ ских напряжений внутри объемных моде­ лей. М о д е л ь изготовляется из оптически неактивного (или с малой активностью) m c o прозрачного материала (оргстекло, цел­ л у л о и д ) со встроенным в нее монолитно оптически активным слоем (пластмасса с высокой оптической активностью с тем ж е модулем упругости, что и для неактивного материала) в месте, где необходимо замерить напряжения. При исследовании напряжений в п л и т а х модель выполняется иэ двух слоев / и 2 (фиг. 26) различных про­ зрачных материалов, имеющих соответ­ ственно толщины Aj и A и оптические постоянные о{, {°* и а£|$ [ 5 3 ] . П о норма­ ли к пластинке сохраняется постоянство * С a 1 0) - П -А/4 1 главных направлений во всех местах и линейный закон изменения нормаль­ ных напряжений в сечении по толщине, исключая зону возле опор и сосредо­ точенных нагрузок (тонкая пластинка). При этих условиях: 1) при нормальном просвечивании получаются изоклины, как в плоской модели; построенные по ним траектории главных напряжений опреде­ ляют также направления главных изги­ бающих моментов в пластинке; 2) при одинаковых модулях продольной упру­ гости слоев I и 2 величина разности главных напряжений ( O — о - ) на по­ верхности плиты выражается через по­ рядок полосы, наблюдаемый л р и сквоз­ ном просвечивании составной модели: 1 2 т а х X e -(1.0) 0,2 3 (22) 0 ,2 l — и 0,1 При различных модулях упругости Е\ н Е% для слоев I и 2 в приведенной * E формуле вместо A 1 вводится Л, « п р и в h\ ~1 1 и вместо Л вводится п = Л — (A -A ); прав сопротивления W момент при h\ = А. —MHL "2 34 том з