* Данный текст распознан в автоматическом режиме, поэтому может содержать ошибки

С V3 о Основное назначение Пределы измерений Примечание Гочность отсчета 8 Увеличение крат Габариты Кольцевой сферометр ИЗС-46 S S X о Я ю Ä Вертикальный компа­ ратор ИЗВ-1 T Горизонтальный ком­ паратор ИЗА-2 о 3 ОПТИЧЕСКИЕ Мнкроннтерфероыетр Линника ИЗК- 6 Двойной микроскоп по Лиыынку MHC=Il ю Профилограф по Ле­ вину ИЗП-5 о Профилограф по Ле­ вину ИЗП-17 I S и 3 мм Охватывает 1—12-й классы чистоты по ГОСТ R Горизонтальный ме­ таллографический микроскоп МИМ-3 с V X а V X X X 41 a «в ffi О о" I « Измерение радиусов сфе­ рических поверхностей S о (S X Z 4» с; 3 U О г» О CL Технические измерения наружных размеров 62,5 4 1 О £3 3, I f * До 100 — абсолют­ ным методом,свыше 100 до 200 мм — ме­ тодом сравнения S о" f о з I 5 Измерение штриховых Mep линеек, сеток спектрограмм t Визирного микроскопа 7-10,5 Отсчетный микроскоп имеет увеличение 61,S Температурный режим 20° С S y 8 X о О О CN ю ю s e *. х Исследование качества поверхностей (царапины, впадины, выступы) В зависимости от уст ройствэ микроскопа о 3 Объектив ахромат 7 Ввертывается в тубус микроскопа ва место объектива о X X ю гсч Построен на принципе .светового сечения по­ верхности" 4 t> ёо =i Исследование качества плоских и цилиндриче­ ских наружных поверх­ ностей Высота измеряемого профиля 0,9—60 мн Ход столика 10 мм в каждом направле ПРИБОРЫ НИИ о J 1 I 0,35—7 мм Охватывает все классы чистоты по ГОСТ Исследование профиля по верхиостей глубиной Oi 1 мк и выше Вертикальное от оОО до 16 000 Горизонтальное от 25 до 500 о Большая модель Обеспечивает фотозапись микрогеометрни о X X О I CN ю to at Исследование профиля по­ верхности в цеховых условиях Вертикальное от 250 до 5000 Горизонталь­ ное от 25 до 50 x Обеспечивает фотозалио микрогеометрии I S X 8 X О Q 1: •? о 5 X о «* S U3 Изучение микроструктуры металлов Перемещений столика 0,1 мм tO OO S S CUn CV3 — о—» Обеспечивает наблюдение и фотосъемку объектов в светлом и темном поле, а также в поляри- , эованном свете 251