* Данный текст распознан в автоматическом режиме, поэтому может содержать ошибки

Общий вид прибора показан на фиг. 384. Основным преимуществом профилометра является быстрота изме­ рений. Для проверки трассы длиной 20 мм требуется 1—2 мин. Быстрота измерений и портативность прибора делают его пригодным для использования непосредственно в производственных условиях. Пампа 2 Pesynupue Л - Окуляр-микрометр дпя отсчета бысо^ ты шероховатости Фиг. 385. Схема прибора акад. Линника (двойной ми­ кроскоп). Профилометр нельзя рекомендовать для оценки грубых поверхностей из-за опасности поломки алмазной иглы. Широкое применение имеют приборы акад. Линника, измеряющие Я а х (двойной микроскоп и микроинтерферометр). Двойной микроскоп сконструирован по принципу так называемого светового сечения. Сущность сечения светом заключается в следующем. Пучок лучей на­ правляется под некоторым углом на исследуе­ мую поверхность через узкую щель и объектив в виде световой полоски. Так как исследуемая поверхность имеет шероховатость, то световая полоска отразится от нее в виде" искривленной линии по форме самой поверхности. Полученное изображение рассматривается через микроскоп, наклоненный тоже под углом к исследуемой поверхности. Схема прибора акад. Линника представлена на фиг. 385. Прибор состоит из двух микро­ скопов / . Первый из них содержит объектив, регулируемую щель 2 и лампочку 3. Второй микроскоп состоит из такого же объектива, Фиг. 386. Внешний вид окуляра 4 и окуляр-микрометра 5. двойного микроскопа мо­ Зная увеличение микроскопа по фотографии дели МИС-5: светового сечения, можно определить высоты 1 — окуляр-микрометр: 2—ис­ следуемая деталь. неровностей. Внешний вид микроскопа показан на фиг. 386. Двойные микроскопы Линника пригодны для оценки микрогеоме­ трии поверхностей, имеющих высоту неровностей от 1—2 до 60 мк. Для оценки микрогеометрии очень чисто обработанных поверхностей служит микроинтерферометр Линника с двумя головками: первая— для 429 т