* Данный текст распознан в автоматическом режиме, поэтому может содержать ошибки

H отклонение. Для ориентировочных подсчетов отношение - гr ? ^ мается равным 4. Вообще же говоря, отклонение - ^ **ск l поини- не постоянно, Отношение а изменяется при изменении формы n профиля неровностей. равно 4 для шлифованных поверхностей. При более тонких видах Ctc механической обработки это отношение повышается до 5 и более, при грубой обработке пони­ жается до 3. Для более точных под­ счетов можно пользоваться S формулой Я = 3 , 8 8 / / ; . (207) Следует отметить, что ни один из предложенных критериев не дает полной геометрической характери­ стики формы профиля. Имеются попытки создать более сложные критерии для оценки микрогеометрии поверхности, объединяющей в одной формуле несколько однозначных критериев. Многочисленные прибо­ ры, применяемые для оценки качества обработанной по­ верхности, могут быть под­ разделены на профилометры и профилографы. Первые Фиг. 378. Общий вид профилографа кон­ характеризуют чистоту по­ струкции К. Л. Аммона. верхности одним параметром (обычно высотой неровностей) наибольшей, средней квадратической или средней арифметической. Приборы второй группы дают изобра­ жение профиля (профилограмму) в соответствующем масштабе. Для удобства измерения неровностей профилографы очень часто имеют шкалу. Приборы обоих видов могут быть контактными, или щуповыми, и бесконтактными. Контактные обладают щупом в виде иглы с шаро­ образным наконечником, скользящим по исследуемой поверхности; дви­ жение иглы передается в увеличенном масшабе на отсчетный механизм или чувствительную ленту. В бесконтактных приборах чувствительным элементом чаще всего являются световые лучи, которые в дальнейшем фиксируются путем микроинтерферирования, или в виде оптических рычагов на чувствительный экран. Типовой конструкцией профилографа, в которой используется метод ощупывания иглой испытываемой поверхности, является оптикомехани424 т а х г I 0 9