* Данный текст распознан в автоматическом режиме, поэтому может содержать ошибки

34 Метацейнерит — Метод порошка и во времени центр оледенения перемещался с востока на запад. Эту гипотезу в СССР развивали Марков и Герасимов. В настоя­ щее время доказано, что она ничем не подтверждается. Ледники в четвертичное время развивались одновременно в разных центрах, приуроченных к возвышенностям, по мере нарастания они смыкались в общий покров, распавшийся к концу оледе­ нения вновь на отдельные центры. МЕТАЦЕЙНЕРИТ — минерал, отличаю­ щийся от цейиерита меньшим количеством воды и опт. свойствами. Сильно радиоак­ тивен. МЕТАЦИННАБАРИТ — сульфид ртути HgS, куб. Кристаллическая решетка типа ZnS. Иногда встречается в сплошных мас­ сах. Д в . по (111). Черный. Непрозрачный, Изотропный. Блеск металлический. Вто­ ричный минерал ртутных м-иий. Посте­ пенно переходит в киноварь. Редкий. МЕТЕОРИТНЫЙ КРАТЕР — воронки, образующиеся при взрыве от падения крупных метеоритов. Наиболее крупный М. к. известен в С. Америке (шт. Аризо­ на), его диаметр 1207 м, глубина 175 м, высота вала, окружающего кратер, 40— 50 м. МЕТЕОРИТЫ [ jxsxewpoc (метеорос) — носящийся в воздухе] — минеральные агре­ гаты космического происхождения, зале­ тающие в атмосферу Земли из мирового пространства. Обычно М. сгорают, не до­ стигая земной поверхности, накаляясь вследствие трения об атмосферу, и лишь небольшая часть их падает иа Землю. В зависимости от состава различают: ка­ менные М. (аэролиты), железные М. (си­ дериты) и М. промежуточного состава (сидеролиты). МЕТОД КРИВЫХ НАГРЕВАНИЯ—один из методов термического анализа, приме­ няемый при изучении природных минераль­ ных образований, особенно ценный при изучении глин, бокситов, коллоидов и др. образований, где микроскопический и рент­ геновский методы не в состоянии само­ стоятельно решить вопрос о природе ве­ щества. Учет термических эффектов мо­ жет производиться с помощью простой дифференциальной термопары. На кривой, полученной посредством обычной термопа­ ры, экзо- и эндотермические эффекты вы­ ражены очень слабо, на дифференциаль­ ной — более отчетливо. Первые кривые но­ с я т название нормальных, вторые — диф­ ференциальных кривых нагревания. В слу­ чае развития эндотермического эффекта (поглощение тепла) наблюдается останов­ ка в подъеме нормальной кривой и резкий, скачок вниз на дифференциальной кривой. В случае экзотермического эффекта в си­ стеме выделяется некоторое количество тепла, которое отражается на нормальной кривой скачком вверх, на дифференциаль­ ной это явление резче. МЕТОД КРИВЫХ ОБЕЗВОЖИВА­ Н И Я — один из методов физико-химиче­ ского анализа, основанный на наблюдении потери веса изучаемого тела, связанной с удалением свободной и связанной воды при его нагревании. Результаты наблюде­ ний наносятся на график в координатах «потеря веса в % — температура». Полу­ ченная таким образом кривая называется кривой обезвоживания. М. к. о. широко применяется для количественного изуче­ ния гидратных форм разных природных образований — минералов, руд, солей, по­ род. Служит дополнением к термическому анализу. МЕТОД Н Е П О Д В И Ж Н О Г О КРИСТАЛ­ ЛА — то же, что Л а у э, м е т о д . МЕТОД ПОРОШКА — один из методов рентгеноструктурного изучения минералов. Для исследования этим методом берут тонкий порошок измельченных кристаллов, нз которого изготовляют спрессованный столбик диаметром до 1,0 мм и высотой до 5 мм. Столбик помещают в камеру Дебая и центрируют так, чтобы его ось совпада­ ла с осью камеры, и по цилиндру окру­ жают рентгеновской пленкой. На столбик направляют пучок характеристических рент­ геновских лучей. Если какая-нибудь одна система плоских сеток в одной из частиц i кристалла порошка, отражая лучи, образует ! с этими лучами угол В , то совокупность 1 идентичных плоских сеток множества частиц кристаллов в положении отражения даст конус плоских сеток с растворением 2 т. е получатся конусы отраженных лучей, которые, пересекаясь с пленкой, дадут ли| нии (или дужки), симметрично располо| женные относительно центра снимка. При этом лучи одной длины дадут столько пар линий, сколько имеется систем плоских се­ ток, участвовавших в отражении лучей. Ближе к центру сиимка располагаются ли­ нии, полученные при отражении лучей от кристаллов с наибольшими межплоскост­ ными расстояниями; линиям, дальше от­ стоящим от центра снимка, отвечают мень­ шие меж плоскостные расстояния. Снимок