* Данный текст распознан в автоматическом режиме, поэтому может содержать ошибки
507 Р е н т г е н о в ы лучи. 50» достаточно измерить угол между пер вичными Р. л. и вторичными, селектив но рассеянными и отраженными луча ми. Измерение интенсивности послед них дает возможность установить до не которой степени и более тонкую струк т у р у кристалла, а именно, строение его элементарной ячейки, т.-е. число, отно сительное расположение и некоторые внутренние свойства образующих ее атомов. Со времени открытия Л а у э "в 1913 г. эта область физики, т.-е. область рентгенографического иссле дования кристаллов, достигла громад ного развития, при чем удалось деталь- показал, что они образованы не ней тральными атомами, а противоположно заряженными ионами, напр. положи тельными ионами Na и отрицательны ми ионами С1 в случае доваренной соли. Это обстоятельство предполага лось и раньше; однако, впервые оно было доказано именно при помощи Р. л. При рентгенографическом исследова нии кристалла применяются различ ные методы. Один из них (метод Лауэ) заключается в пропускании пучка не однородных Р. л. (с сплошным спектром) через отдельный кристалл исследуе мого вещества; при этом лучи каждой длины волны отражаются от определен ной системы плоскостей, для которых выполняется у с л о в и е усиления лучей, 0Т1аж>.емых соседними плоскостями. В результате на фотографической пла стинке вокруг центрального пятна, обусловленного первичным пучком Р. л., получается система симметрично расположенных пятнышек, характери зующих симметрию рассматриваемого кристалла (рис. 5). Второй м е т о д (Врагга) заключается в отражении монохро ш матических Р. л. определенной длины волны от одной какой-либо системы кристаллических плоскостей, обычно V параллельных наружной поверхности кристалла (см. X X V , 619/20, прил. 10). Этот метод применим в том случав, \ когда исследуемое вещество встречает ся в виде монокристалла достаточно большого размера. Весьма удобен и распространен, особенно в металлогра фии, так наз. м е т о д порошков, пред Рис. 5. Рентгенограмма кристаллов цинковой ложенный Дебаем (Debye) и Шеррером обманки, при пропускании лучей, параллель ных ребру куба, по методу Л а у э . (Scherrerj. Он заключается в пропуска нии монохроматических Р. л. через но определить внутреннюю с т р у к т у р у конгломерат микроскопических кри множества кристаллов различных ве сталликов, ориентированных совер ществ, от самых простых (металлов) и шенно беспорядочно. При этом рас вплоть до чрезвычайно сложных орга сеянные Р. л. о б р а з у ю т ряд конусов, нических соединений. Одним и з первых составляющих определенные у г л ы с достижений в этой области явилось первичным пучком и запечатлеваю установление того факта, что в кри щихся на фотографической пластинке, сталлах простейших химических соеди перпендикулярной к последнему, в виде нений, в роде, напр., поваренной соли ряда концентрических кругов. По ра (Na CI), мы не имеем отдельных моле диусам э т и х кругов, т . - е . величине кул, но что весь кристалл предста углов рассеяния, можно непосредствен вляет собой как бы одну гигантскую но вычислить расстояние м е ж д у соот молекулу, образованную правильно ветствующими зеркальными плоско расположенными атомами. Так, напр., стями, которые производят отражение. в кристалле поваренной соли каждый Вместе с тем по ширине этих кругов атом натрия окружен 6-ю атомами можно с у д и т ь о размере отдельных хлора, и наоборот. Эти атомы распола кристалликов: чем меньше последние, гаются в шахматном порядке, отнюдь тем шире соответствующие круги, т.-ене образуя отдельных пар, в роде моле тем менее резок максимум интенсив к у л N a C l , как это склонны были себе ности в рассеянных пучках. Метод представлять раньше (см. X X V , 589/92). Дебая применим как к веществам, при Далее, рентгенографический анализ веденным искусственным образом в солеобразных кристаллов э т о г о типа