* Данный текст распознан в автоматическом режиме, поэтому может содержать ошибки

ИНФРАКРАСНАЯ ДЕФЕКТОСКОПИЯ 130 ІНФРАЧЫРВО­ АЯ ДЭФЕК­ Н ТАСКАПІЯ – від дэфектаскапіі, які выкарыстоў вае інфрачырвонае вып раменьванне. Дазва ляе вы явіць дэфект, калі тэмпература побач з ім ад розніваецца ад тэмперату ры суседніх бездэфектных участкаў ужо на нека лькі дзясятых доляў г. Для яго правядзення у кант ра люемым вы рабе ствараюць градыент тэмперату ры і павод ле пару шэнняў плаўнасці ходу яе вымярэння ўздоўж вы рабу мярку юць аб наяў насці дэфектаў. Інтэнсіў насць інфрачырвонага вып раменьвання вымяраюць звычайна з дапамогай фотарэзістараў, фота элементаў, а таксама фатаг рафічным метадам. ІНФРАЧЫРВОНАЯ СПЕК­ ТРАСКАПІЯ – від спект ра льнага ана лізу, які выкарыстоўвае выпраменьванне ў інфрачырвоным дыяпазоне спектру, як выпускання, паглынання, так і адбіцця. З яе дапамогай даследуецца будова ма лекул арганічных злу чэнняў, у прыватнасці, вуглевадародаў, вы яўляецца наяўнасць пэўных струк турных элементаў гэтых злу чэнняў, а таксама вельмі ма лых прымесяў. Выкарыстоўваецца таксама для структурнафа завага ана лізу любых цвёрдых мета лаў, празрыстых у гэтай вобласці спектра, напр., аксідаў шчолачназямельных металаў, тугапраўкіх злу чэнняў, для выву чэння працэсаў адсорбцыі. ИНФРАКРАСНАЯ ДЕФЕКТОСКОПИЯ – вид дефектоскопии, использующий инфракрасное излучение. Позволяет обнаружить дефект, если температура вблизи него отличается от температуры соседних бездефектных участков уже на несколько десятых долей г. Для его проведения в контролируемом изделии создают градиент температуры и по нарушениям плавности хода ее изменения вдоль изделия судят о наличии дефектов. Интенсивность инфракрасного излучения измеряют обычно с помощью фоторезисторов, фотоэлементов, а также фотографическим методом. ИНФРАКРАСНАЯ СПЕКТРО­ СКОПИЯ – вид спектрального анализа, использующий излучение в инфракрасной области спектра, как испускания, поглощения, так и отражения. С ее помощью исследуется строение молекул органических соединений, в частности, углеводородов, выявляется наличие определенных структурных элементов этих соединений, а также очень малых примесей. Применяется также для структурно-фазового анализа любых твердых материа лов, прозрачных в этой области спект ра, напр., оксидов и щелочноземельных металлов, тугоплавких соединений, для изучения процессов адсорбции.