* Данный текст распознан в автоматическом режиме, поэтому может содержать ошибки

Э Сх ема прос вечиваю щ его э лектронного микрос копад 1 — анодЮ — катодЮ — фокусирующий электродЮ 2 3 4 — конденсорная линзаЮ — объективная линзаЮ 5 6 — проекционная линзаЮ — промежуточное изображение 7 2 3 1 4 Об ъ ект 5 6 7 электроны. Они фокусируются объективной линзой, которая создаёт промежуточное изображение объекта. Проекционная линза снова собирает электроны и создаёт второе, ещё более увеличенное изображение объекта на люминесцентном экране, на котором под действием электронов создаётся светящееся изображение объекта. С помощью помещённой под экраном фотопластины получают фотографию рассматриваемого объекта. Разрешающая способность электронного микроскопа в сотни и более раз превышает разрешающую способность оптического микроскопа. Для изучения массивных непрозрачных для электронов объектов применяют эмиссионные электронные микроскопы. В них изображение получают с помощью электронов, испускаемых образцом при нагревании, освещении или бомбардировке его ионами или электронами. Растровые или сканирующие электронные микроскопы позволяют исследовать как непрозрачные, так и прозрачные для электронов объекты, на которые направляется тонкий пучок электронов, непрерывно обегающий (сканирующий) участок поверхности объекта. Отражательный электронный микроскоп даёт изображение объектов с помощью рассеянных электронов, которые проходят через систему линз, увеличивающих изображение. В теневом электронном микроскопе на образец направляется тонкий электронный луч (зонд), который на удалённом от объекта экране даёт увеличенное теневое изображение объекта. С помощью электронных микроскопов можно изучать изображения отдельных атомных плоскостей, дислокационные картины в металлах и сплавах, кристаллическую структуру различных объектов, в т. ч. биологических, крупных молекул и даже расположение ядер атомов. Лю минес ц ентный э кран Фотоплас тинка ЭЛЕКТРО´ ННЫ ускоренных до больших энергий в условиях глубокого вакуума. При этом используются волновые свойства электрона, длина волны которого примерно в 50 000 раз короче световой. Это позволяет рассматривать с помощью электронного микроскопа объекты гораздо меньших размеров, чем с помощью оптического микроскопа. В отличие от оптического, в электронном микроскопе вместо световых лучей используют ускоренные электроны, а вместо стеклянных линз — электромагнитные катушки (электронные линзы) или электростатические линзы. Источником электронов служит э л е к т р о н н а я п у ш к а . Для исследования объектов в проходящих пучках электронов применяют электронные микроскопы просвечивающего типа, обладающие самой высокой разрешающей способностью по сравнению с другими типами электронных микроскопов. Металлический катод испускает электроны, которые собираются в пучок с помощью фокусирующего электрода и получают энергию под действием сильного электрического поля в пространстве между катодом и анодом. Для создания этого поля к электродам прикладывается высокое напряжение — 100 кВ и более. Выходящий из электронной пушки пучок электронов с помощью конденсорной линзы направляется на рассматриваемый объект, который рассеивает, отражает и поглощает Й УМНОЖИ´ ТЕЛЬ (вторичноэлектронный умножитель), электронное устройство для усиления (умножения) потока первичных электронов на основе вторичной электронной эмиссии. Электронный умножитель либо входит в состав некоторых электровакуумных приборов (напр., фотоэлектронных умножителей), В Ф А К Э Э б К А Э а Структурные с х емы фотоэ лектронных умнож ителей с линейными диодными с ис темамид а — с корытообразными динодамиЮ — с жалюзийными б динодамиЮ — световой потокЮ — фотокатодЮ Ф К В — фокусирующие электроды катодной (входной) камерыЮ Э — динодыЮ — анодЮ А штрихпунктирными линиями изображены траектории электронов 435