* Данный текст распознан в автоматическом режиме, поэтому может содержать ошибки

Э ЭЛЕКТРО´ННЫЙ МИКРОСКО´П, прибор для наблюдения и фотографирования многократно (до 106 раз) увеличенного изображения объекта, в котором в качестве излучения, падающего на объект, используется не свет, а пучок электронов. Электроны в условиях вакуума ускоряются электрическим полем до высоких энергий (несколько сотен килоэлектронвольт). Физ. основы электроннолучевых приборов были заложены почти за сто лет до появления электронного микроскопа У. Р. Гамильтоном, который установил аналогию между прохождением лучей света в оптически неоднородных средах и пучков электронов в магнитных полях. Фокусирующие свойства осесимметричных магнитных полей исследовал Х. Буш (1926), который разработал магнитную линзу. Первые электронные микроскопы — просвечивающий и растровый — были созданы соответственно в 1931 и в 1938 г. К сер. 1960-х гг. электронные микроскопы достигли технического совершенства. Электронный микроскоп обладает очень высокой разрешающей способностью, в несколько тысяч раз большей, чем световые микроскопы; предел разрешения электронного микроскопа (расстояние между двумя раздельно наблюдаемыми деталями объекта) составляет ~ 0,2 нм. Такое высокое разрешение связано с очень малой длиной волны де Бройля у электрона. Увидеть (различить) объект можно, если его размеры больше длины волны излучения, в котором рассматривается объект. Длина волны света ок. 600 нм, поэтому в световом микроскопе можно различить и опознать объекты размерами больше 600 нм. Длина волны де Бройля электронов приблизительно в 1000 раз меньше, поэтому в электронном микроскопе можно рассматривать объекты во столько же раз меньшие, чем в световом. Электронные микроскопы подразделяют на про све чив а ющи е, в которых информацию об объекте дают прошедшие через объект электроны, и р а с тров ые, работающие на отражении и сканировании, т. е. последовательном перемещении тонкого электронного луча от одной точки к другой, но принципиальные схемы обоих типов электронного микроскопа различаются мало. Фото различных объектов под электронным микроскопом: голова муравья (слева) и пыльца (справа) Электронный микроскоп имеет источник электронов — электронную пушку, систему ускоряющих электрических полей, фокусирующую систему магнитных полей (магнитные линзы), формирующих поток электронов в узкий электронный зонд. Этим зондом «освещают» объект. В растровом электронном микроскопе при взаимодействии зонда с объектом возникает несколько излучений (отражённые электроны, вторичные электроны, выбитые с поверхности объекта, рентгеновское тормозное излучение, свет), которые регистрируются соответствующими детекторами и преобразуются в электрические сигналы, которые подаются на электронно-лучевую трубку. На экране появляется увеличенное изображение объекта. В просвечивающем электронном микроскопе ускоряющее электрическое поле можно изменять от десятков до сотни киловольт в зависимости от толщины исследуемого объекта. После прохождения сквозь объект часть электронов рассеивается и задерживается апертурной диафрагмой. Прошедшие электроны фокусируются рядом электронных линз, в результате на катодолюминесцентном экране формируется изображение. Степень и характер рассеяния электронов в различных точках объекта не одинаковы, соответственно меняется число электронов, прошедших через диафрагму, а следовательно, и их плотность на формируемом изображении. Сфокусированное и усиленное изображение можно вывести на экран компьютера. С помощью электронного микроскопа исследуют микрорельеф объекта, определяют хим. состав поверхности, выявляют микродефекты, проводят локальный спектральный анализ (по энергетическим потерям) и т. д. ЭЛЕКТРО´ННЫЙ ПАРАМАГНИ´ТНЫЙ РЕ´ ЗОНАНС (ЭПР), резонансное поглощение электромагнитной энергии веществами, содержащими парамагнитные частицы. Открыт в 1944 г. Е. К. Завойским, наблюдается в веществах, атомы и молекулы которых содержат нечётное число электронов (атомы азота, водорода, молекулы NO), в свободных радикалах хим. соединений Электронный микроскоп 649