
* Данный текст распознан в автоматическом режиме, поэтому может содержать ошибки
С y y z Вследствие малой величины тока и низкой энергии туннелирующих электронов образец не может быть повреждён током. Сканирующий туннельный микроскоп применяется для исследования атомного строения поверхности, химических процессов на ней, строения молекул биологических объектов, в исследованиях в области субмикронной и нанотехнологии и т. п. По аналогии со сканирующим туннельным микроскопом построен сканирующий атомно-силовой микроскоп, основанный на измерении силы между зондом и поверхностью. z а x б x Прямоугольные декартовы системы координат: а — правая; б — левая СКИН-ЭФФЕ´КТ (поверхностный эффект), затухание электромагнитных волн при их проникновении в проводящую среду, вследствие чего переменный электрический ток высокой частоты будет течь только по тонкому приповерхностному слою проводника. Скин-эффект наблюдается в металлах, плазме, ионосфере Земли и др. средах с достаточно высокой проводимостью (напр., в теле человека). Высокочастотное электрическое поле и связанное с ним магнитное поле не проникают в глубь проводника, а сосредоточиваются в относительно тонком приповерхностном слое толщиной δ, названном глубиной скин-слоя. Скин-эффект появляется потому, что под действием внешнего переменного электромагнитного поля свободные электроны проводника создают вихревые токи, поле которых компенсирует внешнее поле в объёме проводника. Глубина скин-слоя уменьшается с увеличением проводимости проводника и частоты электромагнитного поля. Для металлов на частотах оптического диапазона δ оказывается сравнимой с длиной волны λ ~ 10—7 м. Столь малым проникновением и почти полным отражением электромагнитного поля и объясняется металлический блеск хороших проводников. СИСТЕ´МА ОТСЧЁТА, система координат, часы и тело отсчёта, относительно которого рассматривается движение. Выбор системы отсчёта определяется поставленной задачей. Напр., рассматривать движение планет Солнечной системы удобно в системе отсчёта, связанной с центром масс системы. В физике различают два основных типа систем отсчёта: инерциальные (покоятся или движутся прямолинейно и равномерно) и неинерциальные (движутся с ускорением). В кинематике все системы отсчёта равноправны; в динамике движение тел, как правило, удобнее рассматривать в инерциальных системах, в которых уравнения движения имеют наиболее простой вид. См. также Галилея принцип относительности, Относительности теория. СКАЛЯ´РНЫЕ ВЕЛИЧИ´НЫ, величины, характеризующиеся только числовым значением, такие как масса, объём, энергия, температура, заряд и др. Значения скалярных величин (скаляров) не зависят от выбранной системы отсчёта. Скалярными величинами являются также компоненты векторов. Так, компонентами радиус-вектора тела являются его проекции на каждую из трёх осей прямоугольной координатной системы xyz — rx, ry, rz. Компонентами вектора скорости являются проекции на эти же оси vx, vy, vz, а ускорения — проекции этого вектора ax, ay, az. В отличие от векторных величин, скалярные величины преобразуются по обычным алгебраическим правилам. СКИПИДА´Р, бесцветная или желтоватая жидкость с характерным сосновым запахом, содержит сложную смесь терпеновых углеводородов (см. Терпены). Нерастворим в воде, легко смешивается с органическими растворителями. Живичный скипидар получают перегонкой живицы (продукт, выделяющийся при надрезании коры сосны) с водяным паром (неперегоняющийся остаток представляет собой канифоль). Экстракционный скипидар получают путём отгонки из продуктов бензиновой экстракции просмолённой древесины. Скипидар легко вступает в хим. реакции: легко окисляется на воздухе (особенно на свету), с азотной кислотой, хромовым ангидридом реагирует с воспламенением, в атмосфере хлора самовозгорается. Скипидар применяют в качестве растворителя лаков, красок и эмалей, как сырьё для получения камфоры, инсектицидов, душистых веществ. Очищенный скипидар используют в медицине как местно-раздражающее средство. СКАНИ´РУЮЩИЙ ТУННЕ´ЛЬНЫЙ МИКРОСКО´П, зондовый микроскоп для изучения поверхности твёрдых электропроводящих сред, основанный на сканировании металлического острия над поверхностью объекта на расстоянии 3—10 А (0,3—1 нм), через которое уже возможно туннелирование электронов (см. Туннельный эффект). Такое расстояние электрон способен преодолеть при разности потенциалов между поверхностью и остриём от единиц милливольт до нескольких вольт (в зависимости от материала электрода), при этом туннельный ток j = = 1—10 нА. При сканировании получается профиль поверхности и распределение работы выхода. Сканирование зонда осуществляется с помощью пьезоэлектрических преобразователей. Сканирующий туннельный микроскоп изобретён в 1982 г. Г. Биннингом и Г. Рорером. Разрешающая способность микроскопа составляет доли ангстрема, т. е. прибор имеет атомное разрешение. Микроскоп может работать в вакууме, газе и жидкости. СКОБЕЛЬЦЫ´Н Дмитрий Владимирович (1892— 1990), росс. физик, академик АН СССР (1946). Директор Физического института АН СССР (1951—1973). В 1924 г. впервые начал количественные измерения характеристик частиц с помощью камеры Вильсона, помещённой в магнитное поле. Обнаружив в космических лучах заряженные частицы и их ливни, заложил основы физики высоких энергий. Открыл электронно-ядерные ливни и ядерный каскадный процесс. Исследовал эффект Комптона. 509