* Данный текст распознан в автоматическом режиме, поэтому может содержать ошибки

Д накладываются друг на друга и становятся неразличимыми: , т. е. чем больше штрихов у решётки N и порядок спектра m, тем выше её разрешающая способность при наблюдении спектра порядка m > 1. (1912) и стала экспериментальным подтверждением волновой природы рентгеновского излучения. Особенно чёткая дифракционная картина получается при дифракции рентгеновских лучей на кристаллах. Кристалл является естественной трёхмерной дифракционной решёткой для рентгеновских лучей, т. к. расстояние между рассеивающими центрами (атомами) в кристалле одного порядка с длиной волны рентгеновского излуче—10 ° ния (~А = 10 м). Направление дифракционных максимумов определяется условием Брэгга—Вульфа, которое было выведено в 1913 г. независимо англ. физиком У. Брэггом и росс. физиком Г. В. Вульфом. Длина волны излучения λ, углы падения α0, β0, γ0 первичного луча относительно осей кристалла, углы α, β, γ направлений дифракционных максимумов связаны с периодами кристаллической решётки а, b, с уравнениями Лауэ: a(cosα — cosα0) = Hλ, b(cosβ — cosβ0) = Kλ, c(cosγ — cosγ0) = Lλ, где Н, К, L — целые числа. Облучая рентгеновским излучением кристалл с неизвестной структурой, можно, пользуясь уравнениями Лауэ, определить его структуру, т. е. расположение атомов (ионов, молекул) в кристаллической решётке и расстояния между ними. Дифракционную картину можно получить и при рассеянии рентгеновских лучей аморфными твёрдыми телами, жидкостями и газами. В этом случае дифракционные максимумы, представляющие собой концентрические кольца под определённым углом к падающему лучу, дают информацию о среднем расстоянии между молекулами или атомами. Дифракционную картину можно зафиксировать на рентгеновской фотоплёнке или с помощью полупроводниковых матричных устройств. Изучение таких снимков (рентгенограмм) составляет основу рентгеновского структурного анализа, с помощью которого учёные определяют строение различных веществ. ДИФРА´КЦИЯ ВОЛН, огибание волнами препятствий (в более широком смысле — любое отклонение от прямолинейного распространения фронта волны в однородной среде. Классическим примером является дифракция света, проходящего через маленькое круглое отверстие, когда на экране вместо освещённого круга с чёткими границами наблюдается светлое центральное пятно, окружённое чередующимися тёмными и светлыми кольцами. Дифракцию волн можно наблюдать, напр., на море, когда плоская, приближающаяся к берегу волна проходит, напр., через узкое отверстие в дамбе. Плоский фронт волны при этом приобретает кривизну, что свидетельствует о дифракции волны (см. рис.). А В В результате дифракции на щели АВ плоский фронт волны приобретает кривизну Явление дифракции проявляется только в тех случаях, когда длина волны λ становится сопоставимой с характерными размерами l неоднородности среды. Если λ 1, то дифракции не происходит. Напр., наличие препятствий в виде небольших, выступающих из воды камней никак не сказывается на распространении морской волны. А вот наличие камней такого же размера, но в небольшом пруду существенно влияет на распространение в нём волн, длина которых (λ ~1 м) намного меньше, чем длина морских. Дифракция звука в воздухе (λ ~ 10 —2 м) наблюдается практически всегда; дифракция света (λ = 10 —6—10 —7 м) требует выполнения особых условий, не соответствующих условиям геометрической оптики, а дифракция рентгеновских лучей (λ = 10 —9—10 —11 м) используется для изучения кристаллических решёток вещества. Поскольку в микромире частицы наряду с корпускулярными обладают также и волновыми свойствами, то в микромире может наблюдаться и дифракция частиц (напр., электронов). ДИФРА´КЦИЯ СВЕ´ТА, явление нарушения целостности фронта электромагнитной волны, вызванное резкими неоднородностями среды — напр., прохождения света сквозь узкие отверстия. При этом происходит огибание лучами света границы непрозрачных тел, появляются чередующиеся светлые и тёмные области (рис.). ДИФРА´КЦИЯ РЕНТГЕ´НОВСКИХ ЛУЧЕ´Й, результат интерференции вторичных волн, рассеянных без изменения длины волны рентгеновских лучей на электронах атомов твёрдых тел, жидкостей и газов. Направление и интенсивность вторичных волн зависят от структуры вещества и служат его характеристикой. Дифракция рентгеновских лучей была впервые обнаружена на кристаллах нем. физиком М. Лауэ и его учениками Дифракционная картина от непрозрачного диска 184