* Данный текст распознан в автоматическом режиме, поэтому может содержать ошибки

по зонам и охарактеризовать отступления с достаточной точно­ стью количественно. Для количественного исследования оптических систем, при необходимости производить его в цеховой обстановке, могут быть применены методы, описанные ниже, в разделе 3 этого парагра­ фа, например: теневой метод, метод дифракционных решеток и др. В приведенных ниже схемах в этом случае, вместо испытуемой поверхности, помещают испытуемую систему, за которой ставят плоское зеркало. Этими методами пользуются часто при проверке астрономической оптики. Оптические системы большинства приборов рассчитаны таким образом, что ошибки одних деталей компенсируются противопо­ ложными ошибками других. Поэтому индивидуальный контроль капредсрокальн. зафокальный 1 г з Рис. 1442. 4 чества отдельных линз вне всей оптической системы прибора в условиях массового производства почти не практикуется, так как его методика (непосредственное измерение ошибок) ввиду своей сложности непригодна в производственной обстановке. Проверку качества отдельных деталей производят обычно, помещая их на их место в собранной специально для этого схеме прибора или его отдельно откорригированного узла. Таким образом осуще­ ствляют оценку качества изображения и разрешающей силы целых те­ лескопических систем, фотообъективов и т. д., составленных, за исключением испытуемого элемента, из эталонных деталей. Разрешающая сила и в этом случае проверяется визуально, причем в целом приборе, составленном из N отдельных оптических единиц, допускают обычно при проверке каждой из них разре­ шающую силу Ф", находимую в зависимости от допустимой раз­ решающей силы прибора Ф", обусловленной техническими услови­ ями на него, и теоретической разрешающей силы его (определяемой . . „ 140 по формуле: Ф = диаметр зрачка входа прибора в мм 2 (Ф" — ф "\ Ф " = Ф " 4о> п и ф 1 - ф о Л 856