* Данный текст распознан в автоматическом режиме, поэтому может содержать ошибки
чины,, характеризующие общее оптическое действие и качеств! системы. В зависимости о т назначения деталей здесь в о з м о ж ш самые разнообразные методы измерений; т а к например призмь и призменные системы для спектроскопов и спектрографов д о л ж н ! быть испытаны на величину и характер вызываемых ими диспер сий; решетки, их комбинации и другие подобные детали — по и: дифракционному действию и т. п. Методы измерений могут такж> очень значительно варьироваться в зависимости от удобства i места их применения. Во многих случаях достаточно хорошим] средствами для этих измерений являются приборы, описанньи в гл. X V I — X X . Д л я исследования оптического качества систем пред назначен ряд специальных методов, имеющих общее применение При этом следует заметить, что части оптической системы, наприме] объективы, будучи взяты отдельно, во многих случаях не даю' удовлетворительного изображения, т а к к а к оставленные в них (рас четом) о ш и б к и компенсируются другими частями системы Поэтом; испытание таких систем может производиться только в соедине нии с соответствующими им частями, выполненными с высше! точностью. Д л я исследования ошибок изображения с точки зрения гео метрической оптики с у щ е с т в у е т несколько способов. 1. М е т о д Гартмана заключается в измерении направления отдельных изолированных маленькими диафрагмами лучей, исхо-' дящих от исследуемой системы, для чего фотографируются следы этих лучей в фокальной плоскости и в плоскостях, отсту пающих от фокальной на определенную величину. Поэтому дан ный метод называется методом экстрафокальных измерений. Диафрагмы имеют вид, изображенный на р и с . 684а, где малень кие к р у ж к и — отверстия в непрозрачной пластинке. Способ рас положения отверстий может быть различным, например в верши нах концентрических квадратов, на логарифмических спиралях и т. п . Если ( р и с . 6846) С есть пересечение пары изолированных лучей, полученных после исследуемой системы, на которую на правлен пучок параллельных лучей монохроматического света, и если в Л и Б находятся плоскости, где производится фотогра фирование следов лучей (экстрафокальные ф о т о г р а ф и и ) , т о , о б о з начив АВ через d АС — через х, а расстояния следов от оси в плоскостях А и В — соответственно через а и Ь, получим:
1 2 y
Д л я систем катоптрических свет м о ж н о брать белым. Если при диоптрических системах братх, свет различных длин волн, т о могут быть измерены хроматические свойства системы. Для 1 ZS. f. Instrument., XXIV, 1, 1904 2 Phys. ZS., XXV, 20, 269, 1924. 28
