* Данный текст распознан в автоматическом режиме, поэтому может содержать ошибки

991 СПЕКТРАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ 992 очередь, есть ф у н к ц и я концентрации с данного эле­ мента в пробе. С в я з ь между AS и с находят, фотометрир у я л и н и и спектров эталонных образцов, в к-рых наличии тщательно р а з р а б о т а н н ы х методик анализа и н а д л е ж а щ е й о р г а н и з а ц и и всех вспомогательных операций: отбора пробы, ее транспортировки, подго­ товки пробы к а н а л и з у , подачи ее в спектральную установку, обработки и передачи результатов а н а л и з а . &0 Я /5 /5 14 Р и с . 7. С х е м а микрофотометра: 1 — лампа; 2 — кон­ денсор; з — осветительная щель; 4 — прямоугольная призма; 5 — нижний микрообъектив, проектирующий щель 3 н а ф о т о п л а с т и н к у 6; 5&— в е р х н и й ф о т о о б ъ е к т и в ; 7 — призма; 8 и 9 — линзы, проектирующие освещенный участок спектрограммы на наблюдательный экран, име­ ю щ и й п р я м о у г о л ь н ы й в ы р е з . Свет п р о х о д и т в ы р е з , щ е л ь 10, л и н з у 11, к р у г о в о й с е р ы й к л и н 12, с е р ы й фильтр 13 и п о п а д а е т н а ф о т о э л е м е н т 14, В л е в о м п л е ч е с х е м ы свет л а м п ы J п р о х о д и т к о н д е н с о р 15, о с в е щ а е т ш к а л у 16, н а х о д я щ у ю с я в ф о к у с е о б ъ е к т и в а 17, о т р а ж а е т с я от з е р к а л а г а л ь в а н о м е т р а 18, о т к л о н я е т с я п р и з м о й 19, д а е т и з о б р а ­ ж е н и е ш к а л ы 16 п е р е д о б ъ е к т и в о м 20. Это и з о б р а ж е н и е п р о е к т и р у е т с я в у в е л и ч е н н о м в и д е о б ъ е к т и в о м 20, л и н з о й 21 и з е р к а л о м 22 на матовый э к р а н 23. P r e . 8. С х е м а ф о т о э л е к т р и ч е с к о г о п р и ­ бора д л я последовательного определения элементов (ФЭС-i): J — входная щель; 2 — о б ъ е к т и в к о л л и м а т о р а ; з, 4 и 5 — диспергирующие п р и з м ы ; 6 — л и н з а , н а п р а в л я ю щ а я свет на ф о т о э л е м е н т 7 в к а н а л е с р а в н е н и я ; 8 — с м е н н ы е серые фильтры; 9 и 10 —. д в у х линзовый объектив, фокусирующий спектр н а выходную щель 11; 12 и 13 — л и н з о в а я с и с т е м а , н а п р а в л я ю щ а я свет на фото­ э л е м е н т 14; 15 — п о в о р о т н о е з е р к а л о , н а п р а в л я ю щ е е с в е т в н а б л ю д а т е л ь н ы й м и к р о с к о п 16. Общее время от начала отбора пробы до сообщения р е з у л ь т а т о в а н а л и з а равно 3—5 мин. Имеются различные типы фотоэлектрич. спектраль­ ных установок, одноканальных (рис. 8) и многока­ н а л ь н ы х (рис. 9). В п р а к т и к е металлургии, произ-ва. Я 11 элемент, подлежащий определению, содержится в р а з ­ л и ч н ы х и притом точно известных концентрациях. Имеется множество вариантов фотографич. метода С. а., приспособленных к особенностям самых разно­ о б р а з н ы х аналитич. задач. А н а л и з пробы на неск. элементов фотографич. методом занимает приблизи­ тельно 15 мин. Относительная погрешность определе­ ний весьма существенно зависит от конкретных усло­ в и й , в общем ее можно оценить в 1,5—3%. Фотогра­ фич. методами С. а. можно определять элементы в к о н ц е н т р а ц и я х до десятков процентов. Н и ж н я я гра­ ница, х а р а к т е р и з у ю щ а я чувствительность С. а., со­ с т а в л я е т 1 0 ~ — 1 0 ~ % (при использовании специаль­ ных химич. и физич. приемов обогащения). В благо­ п р и я т н ы х с л у ч а я х методы обогащения позволяют повысить чувствительность спектрального а н а л и з а в сотни р а з . Д л я контроля произ-ва однотипной продукции при­ меняют фотоэлектрич. методы С. а., обладающие высо­ кой точностью и большой скоростью измерения интен­ сивности спектральных линий в ш и р о к и х д и а п а з о н а х значений интенсивности и длин волн. Погрешности фотометрирования л и н и й не превосходят 0,3—0,5%. Относительную интенсивность аналитич. линий десят­ к о в элементов можно измерить за 30—60 сек. Т а к о й п р и б о р выдает первичную информацию об интенсив­ ности с п е к т р а л ь н ы х линий в виде электрич. сигналов. Р а з р а б о т а н а а п п а р а т у р а , автоматически преобразую­ щ а я сигналы в сведения о р е з у л ь т а т а х а н а л и з а . Эти данные поступают на вход электрич. п и ш у щ и х и пер­ ф о р и р у ю щ и х машин, а т а к ж е устройств, с л у ж а щ и х д л я передачи информации на расстояние (телетайп, световое табло). Применение фотоэлектрич. с п е к т р а л ь ­ ных приборов в качестве датчиков открывает но­ вые возможности в технике у п р а в л е н и я процессом произ-ва. В ы с о к а я точность и большая скорость самого про­ цесса а н а л и з а реализуются в полной мере только п р и 5 8 Р и с . 9. О п т и ч е с к а я с х е м а м н о г о к а н а л ь ­ ного фотоэлектрического прибора ( Д Ф С 10): 1 — источник света; 2 — к о н д е н с о ­ ры; 3 — в х о д н а я щель; 4 — п л о с к о е з е р к а л о ; 5 — д и ф р а к ц и ­ о н н а я р е ш е т к а ; 6 — в ы х о д н а я щ е л ь ; 7 н S— п р о е к т и р у ю щ а я с и с т е м а ; 9 — фотоэлемент; 10 — л и н з а к о н д е н с о р н о й насадки; 11 — з а щ и т н а я к в а р ц е в а я п л а с т и н к а . Р и с . 10. Схема в а к у у м н о г о ф о т о э л е к т р и ч е с к о г о п р и б о р а (ДФС-31); J — камера с о штативом; 2 — осветительная линза; 3 — входная щель; 4 — дифракционная решетка; 5 — ф о к а л ь н а я п о в е р х н о с т ь с в ы х о д н ы м и щ е л я м и ; 6— фотоумножители; 7 — баллон с аргоном; 8 — электромаг­ нитный к л а п а н ; 9 — в е н т и л ь ; 10 — г и д р о к о н т а к т п о л у ­ п р о в о д н и к о в о й л о в у ш к и ; 11 — э л е к т р о м а г н и т н ы й к л а п а н ; 12— н а с о с ; 13 — в ы х л о п н а с о с а . широко используют многоканальные приборы со спектральным диапазоном от 2200 А до 5500 А . Д л я определения углерода, фосфора, серы, м ы ш ь я к а и