
* Данный текст распознан в автоматическом режиме, поэтому может содержать ошибки
1073 i Д Е Ф Е К Т Ы СТРУКТУРЫ 1074 где AM = 2m —М есть Д. м., а АЕ — энергия ^ связи, т. е. энергия, к-рую необходимо затратить для разделения системы на ее элементарные составные части. Следовательно, Д. м., являясь мерой энергии связи, представляет собой так же, как и эта энергия, меру устойчивости системы. При переходе менее устойчивых систем в более устой чивые выделяется энергия и уменьшается масса (т. е. Д. м. увеличивается); часть массы отдается вместе с энергией в окружающую среду. При химич. превра щениях соответствующие изменения массы ничтожны (менее 10 % ) , поскольку эти превращения затрагива ют лишь электронные оболочки атомов с весьма ма лой массой, тогда как атомные ядра, в к-рых сосредо точена почти вся масса вещества, остаются неиз менными. Поэтому химич. реакции протекают в ус ловиях практически полного равенства масс исход ных и конечных продуктов. Ядерные же превращения,затрагивая основную массу вещества, обнаруживают заметное ее изменение (иногда на несколько десятых процента) и сопровождаются энергетич. эффектами, на много порядков большими, чем при химич. реакци ях; при этом изменение массы на 1 физич. единицу атомного веса соответствует энергии в 931 Мэв. Энер гетич. эффект ядерной реакции определяется в основ ном разницей Д. м. конечных и исходных ядер. Д. м. атомных ядер известны с большой точностью и выра жаются в физич. единицах атомного веса: AM = = 1,00812 Z + 1,00893 (А — Z)—A&, где 1,00812 — масса атома Н , 1 , 0 0 8 9 3 — масса нейтрона, Z — поряд ковый номер, А — массовое число, А — атомный вес. Д. м. ядра, приходящийся на один нуклон, т. е. удель ная энергия связи в массовых единицах (АМ/А), об наруживает характерную закономерность в своем из менении с увеличением массового числа и порядкового номера: сначала он быстро возрастает от нуля (для Н ) до максимума (0,00941 физич. атомных единиц для N i ) , а затем постепенно убывает (составляя для U 0,00801 физич. атомных единиц). Из этой зако номерности, а также из условия выделения энергии лишь при образовании ядер с большим Д. м., чем ис ходные, следует, что наилучшими источниками ядер ной энергии могут служить либо процессы распада на иболее тяжелых ядер на значительно более легкие, либо соединение наиболее легких ядер в менее легкие. В ядерной энергетике получили использование про цессы обоих указанных типов (деление U , U и P u , осуществляемое в атомных реакторах и атом ных бомбах, а также термоядерные реакции синтеза Н е из изотопов водорода, используемые в водород ной бомбе). Следует иметь в виду, что термин «Д. м.» для атомных ядер в литературе часто используют для обозначения простой разности между атомным весом и массо вым числом (AM& = Л & — А ) , а не истинного Д. м. {АМ) причем AM = —AM + 0,00893,4 — 0,00081Z. В этом случае вместо уд. энергии связи в массовых единицах (АМ/А) пользуются величиной AM&/А, на зываемой упаковочным коэффициентом. 6 1 / 1 64 2 3 8 2 3 5 2 3 3 239 4 f } цессе образования кристалла. Вакансии могут воз никать также в поверхностном слое уже образовав шегося кристалла и затем диффундировать внутрь объема. Нек-рые атомы, образующие поверхностный слой тела, набрав случайно достаточно большую ки нетич. энергию, отрываются от соседей и «испаряются», оставив незанятый узел решетки — вакансию. В даль нейшем эту вакансию моЪкет занять соседний глубин ный атом, вакансия же переместится на место этого атома. В результате таких элементарных актов диффу зии вакансия постепенно проникает в глубь твердого тела. Однако для образования вакансии не обязательно должно произойти полное испарение атома из поверх ностного слоя. Если избыточная энергия недостаточна для испарения, то возможно неполное испарение, при к-ром поверхностный атом, вырвавшись из своего ок ружения,может перейти в новое положение над поверх ностным слоем, при к-ром этот атом будет иметь лишь одного соседа снизу. Вероятность такого перехода больше, чем полного испарения, т. к. требует меньшей энергии активации. Образовавшаяся при этом вакан сия тем же механизмом миграции глубинных атомов уйдет в глубь твердого тела. Дефекты по Шоттки обнаруживаются как в струк турах, построенных из одинаковых атомов (напр., металлы), так и в катионной или анионной решетке ионных кристаллов, в структурах с ковалентными связями (германий или селен) и в молекулярных кри сталлах (органич. соединения). В стехиометрич. ион ных кристаллах эти дефекты по условию электроней тральности должны быть парными, т. е. на каждую вакансию в катионной решетке должна приходиться одна вакансия в анионной решетке. Дефекты по Френкелю возникают в результате элементарных актов испарения глубинных атомов твердого тела. При этом «испаряющийся» атом ие по кидает объема тела, а переходит из данного узла, кри сталлич. решетки в соседнее междоузлие. Таким об разом, дефект по Френкелю представляет собой ва кансию и дислоцированный атом и в этом смысле всегда является парным дефектом. Возможность образования дефектов по Френкелю определяется неравномерным распределением энергии между атомами твердого тела. Те из атомов, к-рые в данный момент приобрели зна чительную избыточную энергию, могут покинуть поло жение равновесия (узел решетки) и переместиться в со седнее междоузлие. Оба типа точечных Д. с. возникают в результате термически активируемых процессов, и.каждой данной темп-ре отвечает определенная равновесная концентра ция этих дефектов: Vv_ n 0 v = пе 0 kT 9 С. Э. Вайсберг. ДЕФЕКТЫ СТРУКТУРЫ — нарушения строгой пространственной периодичности кристаллич. решет ки, свойственной идеальному кристаллу. Д. с. яв ляются неотъемлемой и характерной особенностью строения реальных кристаллов, механич. и физикохимич. свойства к-рых во многом определяются числом и типом Д. с. Простейшими и вместе с тем основными типами Д. с. являются точечные дефекты, названные . именами ученых, впервые указавших на их существование в кристаллах: «дефекты по Шоттки» и «дефекты по Френ келю». Дефекты по Шоттки представляют собой неза нятые узлы решетки, т. е. вакансии, возникшие в про где п — общее число атомов твердого тела в 1 см , n — число вакансий, U — энергия образования ва кансии. Однако число Д. с. при данной темп-ре может быть искусственно увеличено бомбардировкой твердого тела элементарными частицами или путем закалки равновесного состояния, соответствующего более высокой темп-ре, а также в результате пластич. деформации. Точечные Д. с. в реальных кристаллах играют ре шающую роль в процессах диффузии, в различных химич. процессах, идущих как на поверхности, так и в объеме твердых тел, в том числе и каталитич. про цессах, протекание к-рых существенно зависит от степени и характера неоднородности и наличия дефек тов в структуре твердого тела. Вместе с тем точечные Д. с. играют важную роль в формировании т. иаз. структурно-чувствительных свойств кристаллов: элек тропроводности, фотоэлектрических и термоэлектрич. свойств, v v